PCB測(cè)試為什么需要測(cè)試探針呢？是因?yàn)?a href="http://www.ffyg888.com/" target="_blank" title="測(cè)試探針">測(cè)試探針能夠提高測(cè)試效率、保護(hù)被測(cè)組件，并適應(yīng)現(xiàn)代電子制造的需求，具體分析如下：

01提高測(cè)試效率

自動(dòng)化測(cè)試需求：在大規(guī)模生產(chǎn)中，不可能使用萬(wàn)用表逐個(gè)測(cè)量電阻、電容等元件，因此需要自動(dòng)化的測(cè)試方，ICT（In-Circuit-Test）測(cè)試機(jī)臺(tái)通過(guò)多根探針同時(shí)接觸所有需要測(cè)試的點(diǎn)，大大提高了測(cè)試效率。

減少人工干預(yù)：使用探針可以大大減少手動(dòng)介入的需要，避免人為錯(cuò)誤，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性。

02保護(hù)被測(cè)組件

避免機(jī)械損傷：如果讓測(cè)試探針直接接觸電路板上的元件或焊腳，可能會(huì)壓毀一些電子零件，特別是在表面貼裝技術(shù)（SMT）廣泛使用的當(dāng)下。
消除誤判情況：探針直接接觸電子零件或焊腳可能會(huì)導(dǎo)致接觸不良，從而引起誤判，設(shè)置測(cè)試點(diǎn)可以有效避免這種情況，提高測(cè)試的可靠性。

03適應(yīng)現(xiàn)代電子制造需求

應(yīng)對(duì)電路板小型化：

隨著電路板尺寸的不斷縮小，測(cè)試點(diǎn)占用的空間成為設(shè)計(jì)和制造的挑戰(zhàn)，合理的測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)能夠在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高效測(cè)試。

應(yīng)對(duì)電路板小型化：

隨著電路板尺寸的不斷縮小，測(cè)試點(diǎn)占用的空間成為設(shè)計(jì)和制造的挑戰(zhàn)，合理的測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)能夠在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高效測(cè)試

兼容不同測(cè)試方法：盡管出現(xiàn)了如Net test、Test Jet、Boundary Scan和JTAG等減少測(cè)試點(diǎn)數(shù)量的方法，但這些方法目前無(wú)法完全替代傳統(tǒng)ICT測(cè)試，測(cè)試探針仍然不可或缺。