射頻探針是一種測量裝置，用于電子測試設備，對硅片、管芯及開放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號進行測量。此外，射頻探針還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應用。
射頻探針開發(fā)于1980年，在此之前，由于沒有一種能夠在無需安裝或貼合狀態(tài)下對單片微波集成電路（MMIC）裝置進行測試的簡便方法，因此測試過程常常使得電路完整性遭到破壞，引發(fā)系統干擾或降低電力負載。
種類
01固定式探針
一般測試PCB不同間距的測試點，在機箱內部的自動化機械手臂上，配對使用。
02電纜式探針
將一對半剛電纜，剝出芯線安裝在同一個夾具內部，接觸端的電纜折彎成固定間距，手動測試。
03晶圓探針
用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試，精密度和測試頻率較高。
04pogo pin探針
pogo pin 是一種有針軸、彈簧、針管三個基本部件組成的結構，探針整體是具有一定行程和彈力。

工作原理
射頻測試探針通過其探針頭與待測電路接觸，將電路中的射頻信號引導至測量設備。探針的設計需考慮高頻信號傳輸特性，包括阻抗匹配和信號完整性，以確保測量的準確性。
應用領域
射頻針主要用于高頻RF，射頻和微波模塊等信號插入、檢測和測量輸出，高頻電路板電氣性能分析。
具備能通過的信號比較集中，損耗少的特性，在高速數字電路板、微波芯片的測試中，對于射頻探針的阻抗、損耗等都有非常高的要求。
射頻探針的設計結構復雜，部件多，附價值高，多以訂制為主。

如何選擇合適探針
由于待測設備的性質和構成非常敏感且通常較為精細，因此射頻電路的測量往往是一項棘手任務。
高可靠性射頻測量中困擾最多的兩大問題是：
頻率太高時，當前測試設備無法進行射頻能量的測量。
當待測電路對電氣環(huán)境中的微小變化敏感時，測量中要求頻率或幅度不發(fā)生擾動。
這些問題可通過采用對待測電路的能量擾動盡可能小的測量探針解決，其中，高阻抗探針中的放大器能夠平衡待測電路的受擾能量。
?與測試射頻的阻抗匹配
在射頻電路系統測試中，探針與測試設備的阻抗匹配對于能否實現有效的功率傳輸而言至關重要。然而，隨著測試頻率越來越高，以及對測試誤差的要求越來越嚴格，上述阻抗匹配變得越來越困難。
?接觸測試點、頻率或數據速率、探針可用空間以及環(huán)境條件
在射頻測試領域中，射頻測試探針分為多種不同類型，如何選擇合適的探針取決于對待接觸測試點、頻率或數據速率、探針可用空間以及環(huán)境條件的考量。將來，射頻探針需要具有測試更小焊盤及多個信道的設計能力，以及同時覆蓋多種毫米波、射頻、邏輯和功率信道測量范圍的能力。