半導(dǎo)體高頻測試針簡稱“高頻針”常用探針頭型有：B、J、J1、U、U1、T等，其體積細(xì)小、測試精度要求較高，主要用于半導(dǎo)體測試及通訊設(shè)備頻率測試領(lǐng)域

半導(dǎo)體測試探針應(yīng)用于

半導(dǎo)體測試探針針對手機、電腦、對講機、廣播等行業(yè)，都會提供不錯的測試支持，作為測試電子元器件，測試的結(jié)果不僅準(zhǔn)確，并且精密度也很高

半導(dǎo)體探針在IC測試治具中起到什么作用

01、增強治具的耐用度，IC測試探針的的設(shè)計使得其彈簧空間比常規(guī)探針的要大，所以獲得更長的壽命

02、提高測試精度IC測試針因為更加精細(xì)，通常直徑都是0.58mm以下，總長不超過6毫米，所以能夠達到同規(guī)格產(chǎn)品更好的精準(zhǔn)度

半導(dǎo)體測試探針的使用效果

半導(dǎo)體測試探針的投入也是可以作為一種連接電子元器件，再加上也是很小，攜帶方便、安裝簡單，使用效果的穩(wěn)定性，可以起到測試電流和傳輸信號的作用